Wybierz bibliotekę,


Podane konto zostało zidentyfikowane w następujących bibliotekach. Proszę wybrać jedną z nich, by rozpocząć korzystanie z katalogu. Biblioteki można potem zmieniać korzystając z ikony na górnej belce.

 
 
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies. Więcej szczegółów w naszej Polityce Prywatności.Zamknij
BIBLIOTEKA GŁÓWNA POLITECHNIKI ŚLĄSKIEJ
 
 
 
 
Wyślij E-Mail
Adres e-mail:
 
Wprowadź kod z obrazka
 
 
 
 
brak zdjęcia
Szablon z etykietami WWW
Opis formalny
MARC
Hasła związane
HASŁO GŁÓWNE:   Jaglarz, Janusz.

TYTUŁ:   Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego / Janusz Jaglarz.

ADRES WYDAW.:   Gliwice : [s.n.], 1996.

OPIS FIZ.:   101 s. : il. ; 30 cm + 2 dod. 3, 4 s.

UWAGI:   Dys. Politechnika Śląska Gliwice, 1996.

UWAGI:   Praca doktorska. Politechnika Śląska.

Dostępny również w formie elektronicznej.

ZAWIERA:   Bibliogr. s. 98-101.

KLASYF. LOKALNA:   warstwy cienkie (fizyka)

właściwości optyczne

rozkład katowy natężenia światła odbitego

parametry geometryczne

urządzenia optoelektroniczne

cieńkie warstwy amorficznego krzemu

metoda ADIRR (Angular Distribution Intensity of Reflected Radiation)

współczynnik optyczny transmisji

współczynnik optyczny odbicia

badania reflektometryczne

badania elipsometryczne

spektroskopia interferencyjna

UKD:   539.23

WSPÓŁTW.:   Nowak, Marian (1953- ). Promotor

Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego / Janusz Jaglarz. - Gliwice : [s.n.], 1996.
LDR 02005cam|a2200445#i#4500
001 0171900162130
003 GL 001
005 20180302134105.3
008 081028s1996####pl#a|||f#m||||000#0#pol#d
035 %a IDWydania46437
040 %a GL 001 %c GL 001 %e PNN
080 %a 539.23
0901 %a Prace doktorskie
091 %b Rękopis
1001 %a Jaglarz, Janusz.
24510%a Wyznaczanie parametrów optycznych i geometrycznych cienkich warstw na grubych podłożach na podstawie rozkładu kątowego natężenia światła odbitego / %c Janusz Jaglarz.
260 %a Gliwice : %b [s.n.], %c 1996.
300 %a 101 s. : %b il. ; %c 30 cm + %e 2 dod. 3, 4 s.
500 %a Dys. Politechnika Śląska Gliwice, 1996.
502 %a Praca doktorska. Politechnika Śląska.
504 %a Bibliogr. s. 98-101.
530 %a Dostępny również w formie elektronicznej.
7001#%a Nowak, Marian %d (1953- ). %e Promotor
85640%u https://opac.bg.polsl.pl/opacbin/wspd_cgi.sh/wo_ropis.p?IDRek=0171900162130 %z Rekord w katalogu OPAC WWW biblioteki %9 LinkOPAC
85641%u http://delibra.bg.polsl.pl/publication/2172 %z Dostępny z komputerów na terenie Biblioteki Politechniki Śląskiej
980 %a 539.23 %y Fizyka cienkich błon
9811 %a 539.23
990 %a warstwy cienkie (fizyka)
990 %a właściwości optyczne
990 %a rozkład katowy natężenia światła odbitego
990 %a parametry geometryczne
990 %a urządzenia optoelektroniczne
990 %a cieńkie warstwy amorficznego krzemu
990 %a metoda ADIRR (Angular Distribution Intensity of Reflected Radiation)
990 %a współczynnik optyczny transmisji
990 %a współczynnik optyczny odbicia
990 %a badania reflektometryczne
990 %a badania elipsometryczne
990 %a spektroskopia interferencyjna
999 %c jkulik (14/11/2012 ; 000) %c iza (13/09/2013 ; 000, 008, 090+, 091+, 260, 300, 500, 504+, 700+, 710-, 990, 990+) %d iza (13/09/2013) %c elka (02/03/2018 ; 530+, 856+) %r 1996

Linki url

1. http://delibra.bg.polsl.pl/publication/2172 - Dostępny z komputerów na terenie Biblioteki Politechniki Śląskiej
DOKUMENTY PRZEZNACZONE DO KORZYSTANIA NA MIEJSCU
Nr InwentarzaSygnaturaStatusAkcjaUWAGI
104 3101Cz.Ab   R-3101Dostępna (na miejscu) InformacjaUWAGI